18.09.2009  Первая международная конференция/выставка «MEGATECH-2009»

   Приглашаем всех желающих принять участие в первой международной выставке – конференции Megatech 2009, которая пройдет 25 сентября 2009 г. в Москве, в Выставочном центре "Инфопространство". Выставка посвящена новым технологиям в промышленной диагностике.
   В течение конференции вы сможете прослушать доклады, подготовленные ведущими отечественными и зарубежными специалистами, в четырех различных секциях: Неразрушающий контроль, разрушающий контроль и испытание материалов, диагностика в энергетике, мобильные диагностические комплексы.
   Спонсором секции 2 - «Pазрушающий контроль, испытание материалов» является ООО «Мелитэк».
   ООО «Мелитэк» поставляет, внедряет и выполняет сервисное обслуживание оборудования по направлениям:
   - оптико-эмиссионные и рентгеновские анализаторы химического, минерального и структурного состава материалов фирмы Bruker (Германия);
   - материалографическое оборудование фирмы Struers A/S (Дания) для подготовки образцов материалов;
   - оптические микроскопы фирмы Olympus (Япония);
   - твердомеры и автоматически интегрированные системы фирмы EMCO-TEST (Австрия);
   - универсальные испытательные машины фирмы Walter+ Bai Ag (Швейцария)
   - оборудование для измерения в нанометровом диапазоне фирмы Nanovea (США).